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本发明公开了一种用于提高芯片测试效率的方法，包括如下测试步骤：S1、解析被测芯片测试规范，了解需要测试的项目、引脚和pattern相关信息，S2、创建工程，进行测试前的基础设置，本发明通过了解被测芯片的相关信息和需要测试的项目，定义引脚以及引脚组，使多个引脚被编辑在引脚组内，方便后期直接取用，设置测试项、编写测试代码，产生DLL，加载运行，最后进行测试项的测试和调试，达到测试的目的，在测试时一个一个进行测试，拼比其他测试项能够保证单个测试项的测试更加精准，使测试更加有序，使测试过程顺利，节省测试
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113051114 A
(43)申请公布日 2021.06.29
(21)申请号 202110293996.X
(22)申请日 2021.03.19
(71)申请人 无锡市软测认证有限公司
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