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本文公开一种检测扎针测试探针接触性能的装置、方法及面板。所述检测扎针测试探针接触性能的装置,包括:信号线结构和测试结构;所述信号线结构包括一个或多个信号线区,所述测试结构包括一个或多个测试区;任意一个信号线区包括:多条信号线;任意一个测试区包括:多个测试垫和多条测试引线;信号线区与测试区一一对应;对任意一个测试区,测试垫用于接触探针,测试垫的一端与信号线的一端一一对应连接,测试垫的另一端与测试引线的第一端一一对应连接,同一个测试区内的所有测试引线的第二端相互连接。本文提供的检测扎针测试探针接触性
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113050013 A
(43)申请公布日 2021.06.29
(21)申请号 202110287883.9
(22)申请日 2021.03.17
(71)申请人 京东方科技集团股份有限公司
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