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一种用于红外发射芯片的测试设备及测试方法.pdf

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    本发明公开了一种用于红外发射芯片的测试设备及测试方法，包括机架、槽轮减速器和测试仪器，机架内壁通过轴承对称转动连接有驱动辊和导向辊，驱动辊和导向辊通过皮带传动连接，所示机架一侧固定有槽轮减速器，且槽轮减速器的输出端与一个驱动辊固定连接，槽轮减速器一侧固定有第一伺服电机，且第一伺服电机的输出端与槽轮减速器的输入端固定连接，皮带表面等距开设有定位槽，定位槽内壁对称开设有通槽，本发明可在流水线上进行连续检测，可大大提高芯片的检测效率，防止有不良品流出，并且在芯片上的引脚在与测试仪器连接时，极大的减少引

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113064056 B (45)授权公告日 2021.12.21 (21)申请号 202110368037.X 审查员 尤茜 (22)申请日 2021.04.06

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