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用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块及其测量方法.pdfVIP

用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块及其测量方法.pdf

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    本发明涉及一种用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块，其特征在于：包括有：基准块，其中心开设有第一贯穿孔；滑动块，其中心开设有与第一贯穿孔大小相同的第二贯穿孔，所述滑动块滑动地设于基准块上；初始状态时，所述滑动块上的第二贯穿孔与所述基准块上的第一贯穿孔上下对齐，所述滑动块能沿基准块横向和纵向方向滑动。还公开了一种用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的测量方法。本发明的优点在于：该试块结构简单，能够使实际产生的位置度公差可调，同时能够根据各不同厂商各不同零件的公差带要求设置公差带。另外，通过试

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113091661 B (45)授权公告日 2023.03.31 (21)申请号 202110334565.3 (51)Int.Cl.

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