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2023-06-13 发布于四川
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本发明涉及图像目标识别领域，特别是基于深度学习的激光芯片缺陷检测方法与系统、设备及存储介质；包括获得激光器芯片的原始图像；采用VGG‑16网络进行迁移学习，进行原始图像的特征提取；融合原始图像和VGG‑16网络卷积后的图像，输入FasterR‑CNN的RPN网络确定候选框，并对候选框内的特征进行缺陷分类；利用FastR‑CNN检测器确定原始图像的缺陷类型。通过将卷积后图像与原始图像融合后输入RPN网络及用RPN网络生成候选框、对生成的候选框进行分类等对Faster‑RCNN网络改进，实现对激

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113077431 A (43)申请公布日 2021.07.06 (21)申请号 202110341277.0 (22)申请日 2021.03.30 (71)申请人太原

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