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本发明公开了一种辐射制冷性能测试装置,包括底座、温度计、高度调节机构、立柱、角度调节机构、样品台、样品装置、抗干扰帽、辐射制冷试样和翻盖,该温度计装设于该底座内,该高度调节机构底端紧固安装于该底座上,该立柱底端固定安装于该高度调节机构上,通过优化设置抗干扰帽,抗干扰帽上一体式帽体结构,抗干扰帽简易安装于样品装置上,结构简单实用,外表贴附银膜或涂刷白漆,用以降低附件本身对太阳辐射的吸收,能够高效防止多余光对实验数据的干扰;通过优化设置样品装置,样品装置底端设置螺母口,能够通过螺丝将样品装置整体简易
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113063720 A
(43)申请公布日 2021.07.02
(21)申请号 202110264367.4
(22)申请日 2021.03.11
(71)申请人 厦门理工学院
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