一种MKIDs超导探测器阵列像元工作状态及位置的判别方法.pdfVIP

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2023-06-13 发布于四川
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一种MKIDs超导探测器阵列像元工作状态及位置的判别方法.pdf

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本发明涉及一种MKIDs超导探测器阵列像元工作状态及位置的判别方法，包括骤：搭建亚K低温测试系统，测试待测MKIDs探测器阵列芯片的原始谐振频率响应；保持亚K低温测试系统和待测MKIDs探测器阵列芯片安装状态不变，使用影响像元谐振特性的介质附着在待标定探测器像元的表面；保持亚K低温测试系统不变，重新测试待测MKIDs探测器阵列芯片的谐振频率响应；比对两次实测的探测器阵列谐振频率响应，有频率偏移的谐振即为标定的探测器像元。本发明可解决MKIDs超导探测器阵列部分像元的频率偏移和错位的问题，进而提高

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113092857 B (45)授权公告日 2022.08.05 (21)申请号 202110242906.4 (56)对比文件 (22)申请日 2021.03.05

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