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本发明提出一种远距离多ATE半导体测试设备同步方法、系统及测试方法,同步方法包括:时钟发送装置通过高速光纤发送嵌入了时钟信号的时钟编码信号给多个测试设备;测试设备接收时钟编码信号恢复出时钟,并根据时钟调整系统调整测试设备的时钟至与时钟发送装置的时钟一致;时钟发送装置通过高速光纤发送嵌入了触发信号的触发编码信号给多个测试设备;测试设备接收并通过高速光纤将触发编码信号返还给时钟发送装置;时钟发送装置根据接收触发编码信号的时间差,调整发送触发编码信号的时间点。本发明利用25Gbps高速光纤传输信号,实
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113078978 A
(43)申请公布日 2021.07.06
(21)申请号 202110328086.0
(22)申请日 2021.03.26
(71)申请人 杭州加速科技有限公司
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