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本发明提供了光学测试系统及其方法,其系统包括:一测试光源模块;一具有测试对象的反射模块,所述反射模块接收测试光源模块出射的光源光线;一第一光学元件;一探测模块,接收经反射模块反射后经第一光学元件透射的反射光线,采集测试对象发生位移前后,探测模块分别被移动到成像质量最高的位置;以及一控制模块,根据检测探测模块的位移获得测试对象的位移量。本发明的测试系统结构简单且体积小,应用范围广泛,测试方法流程步骤简便可靠、测量快捷准确,能有效降低位移量,尤其是镜头后焦及后焦变化量的高精度测量的成本。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113137924 A
(43)申请公布日
2021.07.20
(21)申请号 20201
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