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超分辨率显微镜图像的自适应校正方法及SIM-ODT双模态系统.pdfVIP

超分辨率显微镜图像的自适应校正方法及SIM-ODT双模态系统.pdf

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    本发明公开了一种超分辨率显微镜图像的自适应校正方法及SIM‑ODT双模态系统，该方法包括：步骤1a，根据光学传递函数以及样本的SIM模态的原始荧光图像，重建获得带伪影的初始SIM超分辨图像；步骤2a，将初始SIM超分辨图像和原始荧光图像按照第一种划分方式分割成若干第一SIM超分辨子图像和原始荧光子图像；步骤3a，通过三维折射率分布，沿SIM模态的光轴找出含有荧光信号的各原始荧光子图像对应的成像焦平面及其对应的样本层数，并在含有荧光信号的各原始荧光子图像的中心及该中心的相邻区域的选定点处设置点光源

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113112405 B (45)授权公告日 2022.04.12 (21)申请号 202110386643.4 (56)对比文件

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