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一种半导体结构及半导体结构的形成方法,方法包括:提供衬底;在所述衬底内形成漂移区和体区,漂移区和体区相邻,漂移区内具有第一离子,所述体区具有第二离子,所述第一离子和第二离子的导电类型相反;在衬底上形成栅极结构,栅极结构位于漂移区和体区表面,且栅极结构从漂移区表面延伸到体区表面;在漂移区表面形成屏蔽掺杂层,所述屏蔽掺杂层与所述栅极结构相邻;在漂移区内形成漏区,漏区与屏蔽掺杂层相邻,漏区与漂移区的第一离子导电类型相同。所述方法形成的半导体结构性能得到了提升。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113140460 A
(43)申请公布日
2021.07.20
(21)申请号 20201
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