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一种硅基显示的来料电性检测系统.pdfVIP

一种硅基显示的来料电性检测系统.pdf

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    本发明揭示了一种硅基显示的来料电性检测系统，待检测的基底层上存在像素电极，所述基底层的边缘设有外围电极，所述基底层具有像素电极的一面上方固定有AOI，所述AOI与基底层之间设有液晶模块。本发明采用偏振片、液晶以及背光源实现在无发光层的基板上进行功能性不良测试，例如亮点、暗点、亮线、暗线以及显示异常等的检出，增加拦截率，降低成本损失。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113109957 A (43)申请公布日 2021.07.13 (21)申请号 202110566032.8 (22)申请日 2021.05.24 (71)申请人 安徽熙泰智能科技有限公司

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