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ICS 31.200
CCS L 63
中 华 人 民 共 和 国 电 子 行 业 标 准
SJ/T 11790—2021
固态盘能耗测试方法
Test methods of energy coonsumption for solid state drive
2021-08-21
发布
2 0 2 1 - 1 1 - 0 1 实 施
中华人民共和国工业和信息化部 发布
I
6.2 典型能耗计算方法4.1 环境条件
6.2 典型能耗计算方法
4.1 环境条件
4.2 电源条件 1
4.3 测试设备
5 测试方法
目 次
前言 I
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 测试条件
5.1 能耗分类 2
5.2 测试原
5.3 工作负载y. 1 ..3 ……………………………… 3
5.4 测试步骤 4
6 能耗计算方内 . 4
6.1 空闲能耗计算方法 4
4
III
SJ/T 11790—2021
前 言
本文件按照 GB/T1.1—2020 《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规 定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由中国电子技术标准化研究院归口。
本标准起草单位:中国电子技术标准化研究院,湖南国科微电子股份有限公司,上海威固信息技术
股份有限公司,深圳华电通讯有限公司,深圳电器公司,北京理工雷科电子信息技术有限公司,北京越
洋紫晶数据科技有限公司,重庆大及电了科技有限公司,江苏华存电子科技有限公司。
重阳,邓国,何来,陶仲
SJ/T 11790—2021
1
固态盘能耗测试方法
1 范围
本标准中规定了固态盘能耗测试的术语和定义、技术要求、测试条件、测试方法等。
本标准适用于以快闪存储器(FLASH) 或非易失存储器(NVM) 为存储介质的固态盘的能耗测试。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件, 仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其必威体育精装版版本(包括所有的修改单)适用于本 文件。
GB/T 36355—2018 信息技术 固态盘测试方法
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
固态盘 Solid State Disk(SSD)
使用快闪存储器 (FLASH) 或非易失存储器 (NVM) 作为存储介质的固态存储器。
3.2
工作负载 workload
测试固态盘能耗时使用的测试场景模型。
4 测试条件
4.1 环境条件
固态盘测试环境条件应满足:
——环境温度:23℃±2℃;
——相对湿度:≥20%;
——气压:80 kPa~106 kPa;
散热条件根据被测对象情况而定,并在测试条件中注明。
4.2 电源条件
固态盘供电电源条件应满足:
—— SSD 形态固态盘电源应满足12(1±5%)V,5(1±5%)V,3.3(1±5%)V:
NVMe 形态固态盘电源应满足12(1±5%)V,3.3(1±5%)V。
4.3 测试设备
4.3.1 一般要求
应选用满足被测样品测试需求的测试设备。
4.3.2 电压、电流仪表
测量范围:电压、电流测量范围满足试验要求。
最大允许误差:不超过±0.5%。
2
SJ/T 11790—2021
用途:电压、电流测量。
4.3.3 电流钳/电流探头
测量范围:电流测试范围满足试验要求;
最大允许误差:不超过土3%。
用途:电流测量。
4.3.4 功率计
测量范围:功率测量范围满足试验要求。
最大允许误差:不超过±0.5%。
用途:功率测量。
4.3.5 温度计
测量范围: -40℃~125℃
最大允许误差:±0.2℃。
用途:环境温度测量。
4.3.6 计时器
最大允许误差:日差不超过土1min
用途:记录侧量时间。
5 测试方法
5.1能耗分类
固态盘的能耗分为空闲能耗和典型能耗
空闲能在是指固态盘在初效化时对全部有储空间进行一次读写操作后,处于电且未进行数据读
写时的能耗。
典型能耗是霜内态盘在施加规定工作资载条件下的典型能耗,工作负载定义见5.3
如有其他能耗测试需求,应规定具体测试工作负载。测试原理、计算方法等可参照本标准执行。
5.2 测试原理图
能耗测试可以使用加压测流法、电流钳法或功率计法进行测试。
加压测流法可以使用电流表测量电流,也可以使用采样电阻测量电流,测试原理图见图1和图2。
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