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本发明公开了一种低触发电压的SCR器件及其制备方法,属于半导体保护器件领域,包括:于一衬底的表面形成外延层;于外延层中依次形成P型掺杂区、N型掺杂区、P型掺杂区和N型掺杂区;分别形成第一N型注入区、第二N型注入区、第三N型注入区、第一P型注入区、第二P型注入区、第四N型注入区、第三P型注入区、第五N型注入区和第四P型注入区,第二P型注入区与第一N型掺杂区、第二P型掺杂区耦接;于外延层中形成隔离结构;于外延层的表面沉积介质层,并分别形成对应每个注入区的接触孔;于接触孔中进行金属沉积,并形成金属连线
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113140627 A
(43)申请公布日 2021.07.20
(21)申请号 202110378050.3
(22)申请日 2021.04.08
(71)申请人 上海维安半导体有限公司
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