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电子组件测试装置与探针.pdfVIP

电子组件测试装置与探针.pdf

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    本申请提供一种电子组件测试装置与探针，所述电子组件测试装置包含载板以及探针。所述载板用以承载电子组件。所述探针包含接触部以及常闭型开关。接触部电性连接量测模块，并用以接触电子组件。常闭型开关电性连接量测模块，并受控于控制信号。当常闭型开关未收到控制信号时，常闭型开关提供旁路电流路径，旁路电流路径用以将量测模块导通至旁路端。当常闭型开关收到控制信号时，常闭型开关不提供该旁路电流路径。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113125815 A (43)申请公布日 2021.07.16 (21)申请号 20191

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