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本发明公开了一种ADC参数测试中超量程输入与非相干采样下的信号恢复方法,首先利用被测ADC输出信号的频域信息对被测ADC的测量周期、幅度、初始相位和直流分量进行估计,然后对削顶输出信号进行第一次重构并进行削顶处理得到重构的削顶输出信号,在被测ADC输出信号中减去第一次重构的削顶输出信号,基于剩余信号对幅度误差进行估计,然后对削顶输出信号进行第二次重构并进行削顶处理得到第二次重构的削顶输出信号,在被测ADC输出信号中第二次重构的削顶输出信号替换为未削顶相关采样输出信号,即可对非相干采样信号恢复得到
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113114245 B
(45)授权公告日 2022.04.19
(21)申请号 202110362036.4 CN 108494402 A,2018.09.04
(22)
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