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2023-06-14 发布于四川
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使用光子计数事件进行相衬成像的x射线成像系统.pdf

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提供了一种x射线成像系统(100)，该系统包括x射线源(10)和相关联的x射线检测器(20)，其中，该x射线检测器(20)是使得能够检测光子计数事件的光子计数x射线检测器。该x射线成像系统(100)被配置用于使得能够基于检测到的光子计数事件来获取至少一个相衬图像。该x射线检测器(20)基于多个x射线检测器子模块，也称为晶片，每个x射线检测器子模块包括检测器元件，其中，这些x射线检测器子模块以边缘式几何结构定向，其边缘指向该x射线源，从而使x射线通过边缘进入。每个x射线检测器子模块或晶片具有厚度，

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113167917 A (43)申请公布日 2021.07.23 (21)申请号 201980073978.1 (74)专利代理机构北京安信方达知识产权代理

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