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2023-06-14 发布于四川
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一种基于零样本学习的工业外观缺陷检测方法、电子设备及存储介质.pdf

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本公开实施例中提供了一种基于零样本学习的工业外观缺陷检测方法、电子设备及存储介质，所述基于零样本学习的工业外观缺陷检测方法通过获取待检测样品的图片；将待检测样品进行类别与属性的标注；根据训练好的深度神经网络模型将待检测样品的图片信息投影到属性空间，得到属性标签信息；根据属性标签信息确定待检测样品的缺陷类型；根据待检测样品的缺陷类型利用训练好的回归网络定位缺陷的位置。本公开实施例具有如下优点：可以高效地利用过往数据和外部数据库，极大程度地减少模型对于待检测缺陷样品数量的依赖。本公开实施例避免了较少

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113112497 A (43)申请公布日 2021.07.13 (21)申请号 202110487504.0 (22)申请日 2021.05.06 (71)申请人合肥中科迪宏自动化有限公司

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