HG 3240-1987 搪瓷测厚仪技术条件.docx

中 华 人 民 共 和 国 专 业 标 准 ZB N 13003—87 搪 瓷 测 厚 仪 技 术 条 件 Technical specifications of vitreous enamel thickness tester 1987-12-10发布 1988 - 05 - 01实施 中华人民共和国化学工业部 发布 1 中华人民共和国专业标准 搪瓷测厚仪技术条件 ZB N 13003-87 Technical specifications of vitreous enamel thickness tester 本标准适用于根据磁通量(磁阻法)原理对以磁性材料(钢铁)为基体的搪瓷层厚度进行测量的 仪表。 1 术语 1.1 基体：没有搪瓷覆盖层的磁性金属光体。 1.2 有效测量范围：能满足基本误差极限要求的那部分测量范围。 2 技术要求 2.1 正常工作环境条件 2.1.1 环境温度：仪器为0～50℃;探头为- 10～50℃;相对湿度：不超过85%(温度为20± 5 ℃ 时 ) 。 2.1.2 周围空气中不含有腐蚀性气体，并避免强烈机械振动。 2.1.3 电压波动范围为额定压的±10%。 2.2 测量范围 2.2.1 工作范围： 0～5 mm。 2.2.2 有效测量范围：0.2～3mm。 2.3 基本误差 在有效测量范围内不大于±5%(测量值)。 2.4 重复性 在有效测量范围内不大于3%。 2.5 电源电压变化影响 仪表的电源电压在额定电压的±10%范围内变化时，应符合本标准2.3和2.4要求。 2.6 允许交流漏电流 使用交流供电的仪器，仪表允许最大交流漏电流为3.5mA (有效值)。 2.7 绝缘电阻 使用交流电源的仪器，当环境温度为10～35℃,相对湿度不超过85%时，仪表电路对仪表接地端 的绝缘电阻应大于20M2。 2.8 绝缘强度 使用交流电源的仪器，当环境温度为10～35℃、相对湿度不超过85%时，仪表电路与外壳之间 (或接地端)应能承受频率为50Hz 的正弦电压1000V, 历 时 1 min 的绝缘强度试验而无击穿或飞弧 现象。 2.9 环境温度影响 当仪器环境温度由0℃升高至50℃、探头由-10℃升高至50℃时，应符合本标准2.3和2.4要求。 2.10 环境湿度影响 中华人民共和国化学工业部1987-12-10批准 1988-05-01实施 ZB N 13003—87 2 当环境温度为25℃、相对湿度为85%时，仪表应符合本标准2.3和2.4要求，其绝缘电阻应符合 2.7要求。 2.11 运输环境条件 仪表在运输包装条件下，应能符合ZB Y 002—81 《仪器仪表运输、运输贮存基本环境条件及试 验方法》专业标准的要求。 2.12 外观 仪表外壳完好，不得有损伤等缺陷，紧固件不得有松动现象。 3 试验方法 3.1 试验条件 3.1.1 各项试验，除条文中另有规定者外，应在下列条件下进行； a. 环境温度：15～30℃; b. 相对湿度：45%～80%; c. 电源电压：波动不大于±10%; d. 仪表接通电源后，需稳定15min。 3.2 外观 用肉眼观察方法进行检查，应符合本标准2.12要求。 3.3 基本误差试验 在有效测量范围内选用三块厚度为有效测量范围的最小、中间和最大量程的搪瓷(或其他等效) 标样(其误差不大于±1.5%)作为标准值，按仪器使用方法对三块标样分别进行测量，并按式(1) 计算： ………………… (1) 试验结果应符合本标准2.3要求。 3.4 重复性试验 重复性误差用相对标准偏差表示。 按基本误差试验方法选取标样，分别对每块标样重复测量十次(测量过程中不得作任何的调零和 校正),相对标准偏差按式(2)计算： ( 2) 式中： σ -—相对标准偏差，%; △X,——每次测量的X, 值与n次测量的算术平均值的偏差； X;—— 第 i次的测量值； i—— 测量次数的序号； n—— 测量的总次数。 试验结果应符合本标准第2.4要求。 3.5 交流漏电流的试验 对于机壳接地的产品，采用如图所示的测试电路。 测试时将供电电压调到额定电压的110%,受试产品的电源开关应接通。在如图所示的K? 、K? 开关作各种组合的情况下进行测量。 试验结果应符合本标准2.6要求。 ZB N13003—87 3 漏电流试验电路 3.6 电源电压变化影响试验 分别将供电电压由额定电压变化到110%额定电压和90%额定电压，