用于测试半导体装置的设备及方法.pdfVIP

用于测试半导体装置的设备及方法.pdf

  1. 1、本文档共32页,其中可免费阅读31页,需付费10金币后方可阅读剩余内容。
  2. 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
  3. 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  4. 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  5. 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  6. 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  7. 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  8. 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明是用于测试硅晶圆或封装装置的测试系统。该系统包含具有多个测试堆叠的测试器,每个测试堆叠都支撑测试引擎的垂直堆叠、数据缓冲器、引脚驱动器和其他资源,其通过快速数据链接在一侧电性连接到晶圆或受测装置,在另一侧电性连接到测试主机。每个测试堆叠设置在电性连接到晶圆的晶圆接触器的顶侧或电性连接到受测装置的负载板上。该系统包含冷却系统,用于在操作过程中散热。该系统使受测装置的焊盘与测试器的引脚驱动器、测试引擎、以及测试主机之间的数据信号路径最小化。通过将每个测试堆叠的底部直接连接到晶圆接触器,可以实现

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113196070 A (43)申请公布日 2021.07.30 (21)申请号 201980065182.1 (74)专利代理机构 北京科龙寰宇知识产权代理

文档评论(0)

知识产权出版社 + 关注
官方认证
文档贡献者

知识产权出版社有限责任公司(原名专利文献出版社)成立于1980年8月,由国家知识产权局主管、主办。长期以来, 知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作, 经过多年来的积累,已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。

认证主体北京中献电子技术开发有限公司
IP属地四川
统一社会信用代码/组织机构代码
91110108102011667U

1亿VIP精品文档

相关文档