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一种多通道相关的低频噪声测试装置及分析方法.pdf

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    本发明公开了一种多通道相关的低频噪声测试装置及分析方法，所述测试装置包括：待测器件模块，用于为待测器件提供外部的偏置电压，引入待测器件需要关注的噪声信号并输出；第一路噪声测试通路，用于将所述待测器件模块输出的第一路小信号噪声放大和数字化采样以得到第一路数字噪声信号；第二路噪声测试通路，用于将所述待测器件模块输出的第二路小信号噪声放大和数字化采样以得到第二路数字噪声信号；频谱分析模块，用于根据采样后的两路数据，对每个通路分别计算各通道的噪声谱情况，然后再进行两个通路之间的相关性分析或进行噪声消除。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113189412 B (45)授权公告日 2022.05.03 (21)申请号 202110494459.1 (56)对比文件

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