一种CPU半导体导电性能检测系统.pdfVIP

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本发明公开的一种CPU半导体导电性能检测系统,包括检测台,所述检测台左侧端面上固定连接有升降支架,所述升降支架上设有断针修复及导电性检测切换机构,所述断针修复及导电性检测切换机构上设有CPU针脚焊接机构,所述CPU针脚焊接机构上设有左右对称的焊接针脚磨圆机构,本发明的CPU针脚焊接机构在焊接前对电烙铁进行预热,在下移进行焊接之前切断电烙铁电源,并使电烙铁接地,从而避免电烙铁在焊接过程中存在静电,有效避免针脚焊接过程中静电对CPU造成二次损伤,断针修复及导电性检测切换机构能自动检测CPU上断针位置

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113190390 A (43)申请公布日 2021.07.30 (21)申请号 202110466849.8 (22)申请日 2021.04.29 (71)申请人 孙淑波 地址 518

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