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基于复合失效模式耦合的IGBT寿命预测方法及系统.pdfVIP

基于复合失效模式耦合的IGBT寿命预测方法及系统.pdf

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    本发明公开了一种基于复合失效模式耦合的IGBT寿命预测方法及系统，首先计算键合引线与焊料层的联立失效概率模型；然后计算联立失效概率模型的期望并记作耦合作用下的寿命；建立耦合函数关系式；预测焊料层与键合引线各自的寿命；建立不考虑耦合作用的IGBT寿命预测模型；建立考虑耦合作用的IGBT寿命预测模型。本发明能对焊料层与键合引线耦合作用下的IGBT模块进行更准确的寿命预测。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113239653 B (45)授权公告日 2022.08.12 (21)申请号 202110425367.8 G01R 31/26 (2014.01)

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