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提升鉴相精度的欠采样频率选取方法.pdfVIP

提升鉴相精度的欠采样频率选取方法.pdf

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    本公开提供一种提升鉴相精度的欠采样频率选取方法，包括：设定待采信号参数；设定欠采样参数；根据欠采样的采样位置与待采信号的相对关系进行采样；以及确认最终欠采样频率，从而提升鉴相精度。所述设定待采信号参数包括设定待采信号频率f。所述设定欠采样参数包括设定欠采样频率为fs。所述欠采样频率fs满足能够满足欠采样的有效性，其中n为正整数，f为待采信号频率。通过上述方法能够缓解现有技术中因欠采样频率的选取导致的的鉴相精度较差等技术问题。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113238245 B (45)授权公告日 2023.04.07 (21)申请号 202110427489.0 H03L 7/091 (2006.01) (22)申请日 2021.04

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