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本公开涉及一种检查系统及方法。检查系统包括:射线源(10),被配置为产生多种具有不同能量的射线;探测器(30),被配置为检测所述射线源(10)发出的射线作用在被检对象(40)的至少一个截面时的信号;和处理器(20),与所述射线源(10)通讯连接,被配置为根据表征所述被检对象(40)的至少一个截面的物质参数的信息调整所述射线源(10)发出的射线的能量。本公开实施例能够适应多种类型的被检物的辐射检查。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113238298 B
(45)授权公告日 2022.03.04
(21)申请号 202110777904.5 审查员 邓晓蓓
(22)申请日 2021.07.09
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