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检测芯片短路位置的方法和装置以及系统.pdfVIP

检测芯片短路位置的方法和装置以及系统.pdf

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    本发明公开了一种检测芯片短路位置的方法和装置以及系统，所述检测芯片短路位置的方法，包括：对芯片模组的输出端子所在回路供电，以在所述回路的短路位置形成短路标记，其中，所述短路标记为所述芯片模组短路位置的输出端子处填充物受热黑化形成；将形成短路标记的芯片模组进行分离处理，以获得所述芯片模组中的芯片单元；获取所述芯片单元分离面的图像信息，并根据所述图像信息识别所述短路标记，以及所述短路标记所在位置确定为所述芯片单元的短路位置。该方法可以对芯片模组的短路位置进行标记，利于实现对短路位置的精确检测。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113253091 A (43)申请公布日 2021.08.13 (21)申请号 20201

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