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本发明涉及基于深层神经网络的电子元器件批量信息检测方法,包括:获取待检测批量芯片的第一图像;对第一图像进行预处理得到增强的灰度图像作为第二图像;使用训练好的目标定位深层神经网络模型确定视野范围内所有芯片的位置;使用图像模板匹配计算出每个芯片的偏移角度;将所有目标依据偏移角度进行修正,并将其处理后得到的正向图单独截取出来作为第三图像;使用训练好的文本定位深层神经网络模型确定芯片表面文本区域位置并将其作为第四图像;使用训练好的字符识别深层神经网络模型确定第四图像文本区域的具体内容;通过串口将识别结果
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113205511 A
(43)申请公布日 2021.08.03
(21)申请号 202110572538.X G06N 3/04 (2006.01)
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