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本发明属于半导体测试领域，尤其是一种半导体存储产品的老化测试设备及其方法，针对现有的老化测试设备在对半导体存储产品进行测试的过程中，不便于对测试基板进行固定定位，从而导致测试基板易松动而降低了测试的准确性的问题，现提出如下方案，其包括箱体，所述箱体的底部固定安装有四个固定脚，箱体的一侧铰接有箱门，箱门上固定安装有把手，箱体的顶部内壁固定安装有加热片，箱体的顶部固定安装有电源，箱体的两侧内壁均固定安装有固定条，本发明能够在对半导体存储产品进行测试的过程中，便于对测试基板进行固定定位，从而可以防止测
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113241113 B
(45)授权公告日 2022.08.19
(21)申请号 202110527683.6 (56)对比文件
(22)申请日 2021.05.14
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