管理膜层厚度测量程式的方法.pdfVIP

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本发明一种管理膜层厚度测量程式的方法,包括:撰写代码,以建立免编码智能框架;以及依托所述免编码智能框架建立膜层厚度测量程式的管理系统。本发明还提供了一种使用方法,包括:将待检查的膜层厚度程式的参数、检查规则和配色方法输入系统中;根据膜层厚度程式参数目标值生成膜层厚度程式参数目标值的合集;制作膜层厚度程式参数设置手册;以及检查参数设置是否正确。在本发明提供的管理膜层厚度测量程式的方法中,可以检测到膜层厚度程式错误,并且,在需要增减待检查参数或修改检查规则时,不用再修改原始代码,可以直接修改系统中的

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113253985 A (43)申请公布日 2021.08.13 (21)申请号 202110591264.9 (22)申请日 2021.05.28 (71)申请人 上海华力微电子有限公司

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