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本发明属于紫外LED封装领域,涉及一种紫外固晶胶质量评估方法,包括:在厚度为0.5~1.5mm的散热基底上设置多组封胶筒,往封胶筒内注入等量的待测固晶胶,烘烤至固晶胶固化以形成固晶胶柱,分别测试每组固晶胶柱在常温以及加热条件下不同时段的透光率以及脱离散热基底的推力值,其中,加热条件下测定透光率以及脱离散热基底的推力值应在紫外灯照射以及提供5~10N恒定推力的条件下进行,之后根据固晶胶柱在各时间段的透光率以及脱离散热基底推力值的衰减程度综合判断待测固晶胶的质量。采用本发明提供的方法对紫外固晶胶的质
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113270528 B
(45)授权公告日 2022.04.29
(21)申请号 202110544916.3 H01L 21/66 (2006.01)
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