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一种基于光混频与延时量化的光链路延时快速测量装置.pdfVIP

一种基于光混频与延时量化的光链路延时快速测量装置.pdf

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    本发明公开了一种基于光混频与延时量化的光链路延时快速测量装置，该装置利用高稳参考源产生中频与本振信号，通过光子混频得到光域射频信号，以用于光链路延时的测量。测试信号分别经由待测链路与参考链路后经电域混频后将延时量信息传递至中频，并消除端口阻抗失配的影响。通过快速改变一系列本征信号的频率以及对返回的中频信号快速检相与延时量化，实现光链路延时的快速测量。本发明装置的信号发生器由锁相环可以快速稳定，因此信号处理器可以快速地改变信号产生器产生所需的本振信号；而光开关为电光开关，具有高速的切换响应，因而测

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113258998 B (45)授权公告日 2022.08.02 (21)申请号 202110547316.2 H04B 10/25 (2013.01)

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