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本发明公开一种测量雷达散射截面参数暗室定标装置及方法,该装置包括暗室,暗室中设置有标准反射体、校准系统和定标系统,本发明方法采用少数几个典型雷达散射界面参数定标体的暗室内定标,得到定标值相对应的中间量—输入/输出比值,并通过选取相同输入/输出比值,将该典型雷达散射截面参数值与雷达散射截面校准装置的增益值相对应。该方法解决了常规方法直接计算定标值误差较大的问题,提高了校准装置暗室定标得准确性,从而保证了雷达散射截面参数校准的准确性。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113281710 B
(45)授权公告日 2023.04.11
(21)申请号 202110508718.1 (56)对比文件
(22)申请日 202
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