杂质检测模型的训练方法、检测方法、设备和介质.pdfVIP

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2023-06-20 发布于四川
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本申请涉及杂质检测模型的训练方法、检测方法、设备和介质，训练方法包括：将含有杂质的训练样本输入待训练的神经网络，得到训练样本的杂质位置的输出结果，其中训练样本包括杂质的已知位置信息和已知光学信号，输出结果包含训练样本的杂质的预测位置和预测光学信号；将预测光学信号和预测位置进行分类，得到第一概率分布；将杂质的已知位置信息和已知光学信号进行分类，形成已知杂质的已知分类数据，并将已知分类数据进行one‑hot编码，得到第二概率分布；利用第一概率分布和第二概率分布，计算损失函数；调整神经网络的网格参数以

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113312964 A (43)申请公布日 2021.08.27 (21)申请号 202110405271.5 (22)申请日 2021.04.15 (71)申请人浙江理工大学地址

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