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本发明涉及一种光刻控制方法、装置及存储介质,属于微纳加工技术领域,该方法包括:获取光刻任务;对光刻任务中的所有光刻网点进行分层处理得到n层光刻网点;对每层光刻网点进行区域划分,得到区域内的光刻网点数据;按照每层每个区域内的光刻网点数据进行光刻,直至完成光刻任务;判断是否还有下一个光刻任务,若无,则结束;若有则再次执行光刻任务;可以解决拼接平台自身的定位精度误差无法消除,导致光刻后的目标出现周期暗纹、区域不均的现象的问题;由于不同层光刻网点所属的层区域存在交集,因此,对于需要拼接光刻的部分通过不同
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113296364 B
(45)授权公告日 2022.07.26
(21)申请号 202010113358.0 (51)Int.Cl.
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