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内部集成电路总线的从属装置的测试方法.pdfVIP

内部集成电路总线的从属装置的测试方法.pdf

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    本发明公开一种内部集成电路总线的从属装置的测试方法，包含：(A)开始该从属装置的第一读取操作或第一写入操作，其中该第一读取操作或该第一写入操作包含传送命令、应答信号、数据、地址或控制字节到该从属装置的子操作；(B)在该子操作结束后，或是在该子操作的中间，传送开始命令或结束命令到该从属装置；(C)在步骤(B)之后，对该从属装置进行第二读取操作或第二写入操作；以及(D)在步骤(C)之后，判断该第二读取操作或该第二写入操作是否正确。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113312217 A (43)申请公布日 2021.08.27 (21)申请号 20201

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