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本发明提供了一种基于人工智能的芯片设计冗余填充方法,该方法包括:利用训练好的神经网络对集成电路版图进行填充推理,得到冗余图形填充图;其中,对神经网络进行训练时损失的衡量方法为:根据获取的冗余图形填充模板图获取冗余图形的填充位置标签图像和倾斜角度标签图像;根据训练时神经网络推理得到的填充位置图与填充位置标签图像中每个像素的像素差值衡量第一子损失,根据训练时得到的冗余图形填充图与冗余图形填充模板图的金属密度差值和金属密度梯度差值衡量第二子损失,根据训练时神经网络推理得到的倾斜角度图与倾斜角度标签图像
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113378465 B
(45)授权公告日 2022.06.21
(21)申请号 202110649416.6 G06F 30/23 (2020.01)
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