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本发明提供一种能够以in‑situ的方式测量成膜后的非常薄的膜的膜厚的膜厚测量装置、膜厚测量方法、成膜系统和成膜方法。膜厚测量装置是在成膜系统中以in‑situ的方式测量形成在基片上的膜的膜厚的膜厚测量装置。该膜厚测量装置包括:能够载置形成有膜的基片的载置台;测量光射出/检测单元,其具有向载置台上的基片射出膜厚测量用的光的光射出部,和接收光在基片反射后的反射光的受光传感器;使光在基片上的照射点移动的移动机构;测量受光传感器与基片上的照射点之间的距离的测距仪;和调节受光传感器与基片上的照射点之间的
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113375567 A
(43)申请公布日 2021.09.10
(21)申请号 202110224635.X B32B 9/00 (2006.01)
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