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本发明公开了一种基于双通道特征比对模型的PCB板缺陷检测方法及装置。所述方法通过构建基于深度可分离卷积的双通道特征比对模型,并利用一部分缺陷PCB板图像及对应的标准PCB板图像训练双通道特征比对模型,使得可通过训练好的双通道特征比对模型,将另一部分缺陷PCB板图像与各自对应的标准PCB板图像进行特征比对,以根据特征比对结果从这些缺陷PCB板图像中识别出虚假缺陷PCB板图像,从而实现对AOI等设备筛除的所有PCB板进行复检,回收带少量可接受缺陷的PCB板。本发明能够精确比对缺陷PCB板图像与标准P
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113379685 A
(43)申请公布日 2021.09.10
(21)申请号 202110581670.7
(22)申请日 2021.05.26
(71)申请人 广东炬森智能装备有限公司
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