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本发明实施例公开一种芯片设计方法及装置，涉及计算机技术领域，能够有效提升芯片老化后的性能。所述方法包括：获取芯片中待定单元的单元约束条件，所述单元约束条件包括所述待定单元的出厂性能约束、出厂能耗约束、老化性能约束、老化能耗约束；根据所述单元约束条件，在所述待定单元对应的标准单元库中选择目标单元作为所述待定单元，其中，所述目标单元的出厂性能参数、出厂能耗参数、老化性能参数、老化能耗参数都满足对应的所述单元约束条件，且所述目标单元为所述标准单元库所有满足所述单元约束条件的标准单元中，所述老化能耗参数
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113343627 A
(43)申请公布日 2021.09.03
(21)申请号 202110700147.1
(22)申请日 2021.06.23
(71)申请人 海光
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