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双磁敏元件探头及基于探头的漏磁检测缺陷定量评价方法,包括步骤一:对试件进行计算或测试,基于神经网络建立缺陷参数和检测信号之间的非线性快速计算模型;步骤二:基于实际检测获取的提离值关联漏磁信号,确定待检测信号,并初始化缺陷特征参数;步骤三:将缺陷特征参数代入检测信号神经网络快速计算模型,生成预测信号;步骤四:基于当前信号预测值和待检测信号计算损失函数值;步骤五:若损失函数值不满足预设精度,通过智能优化算法更新缺陷特征参数,并返回步骤三重复迭代过程;若满足精度,则结束迭代,输出当前迭代步计算得到的缺
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113390956 A
(43)申请公布日 2021.09.14
(21)申请号 202110680791.7
(22)申请日 2021.06.18
(71)申请人 西安
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