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一体式多探头分层扫描的高精度测量探棒结构.pdfVIP

一体式多探头分层扫描的高精度测量探棒结构.pdf

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    本发明提供一体式多探头分层扫描的高精度测量探棒结构，包括伸入测量管道内的测量探棒，所述测量探棒由一体化棒料、双面挠性覆铜板、塑料绝缘套管组成，所述一体化棒料外接双面挠性覆铜板，所述双面挠性覆铜板外接塑料绝缘套管，所述双面挠性覆铜板顶部与数据采集电路板相连。本发明的优点为：结构设计合理，提升密封效果，提高测量精度，延长使用寿命。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113406158 A (43)申请公布日 2021.09.17 (21)申请号 202110801268.5 (22)申请日 2021.07.15 (71)申请人 杭州飞科电气有限公司

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