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一种光谱反射率的确定方法、装置及设备.pdf

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    本申请适用于光学技术领域，提供了一种光谱反射率的确定方法，包括：获取配准深度图和目标光谱图像；从配准深度图中获取目标点的深度信息，并获取目标点的第一灰度值；根据目标点的深度信息、成像光谱设备的第一内参数和目标点在所述目标光谱图像中的第一坐标信息，计算得到目标点的三维坐标信息；根据目标点的邻域点确定目标点对应的法线向量信息；将三维坐标信息和法线向量信息输入预设漫反射板全光照模型，得到第二灰度值；获取漫反射板的反射率，根据漫反射板的反射率、第一灰度值和第二灰度值计算目标点的反射率。上述方法，避免了待

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113409379 B (45)授权公告日 2022.08.02 (21)申请号 202110754926.X G06V 10/77 (2022.01)

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