- 1、本文档共17页,其中可免费阅读16页,需付费10金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本申请提供了一种检测三维存储器的方法,该方法包括:部分移除衬底以暴露至少两个沟道结构的存储膜的一部分,以形成至少两个刻蚀区;向至少两个刻蚀区执行第一刻蚀,其中,第一刻蚀被配置为能够刻蚀掉沟道层与第一刻蚀的刻蚀材料接触到的部分;在执行第一刻蚀后,向至少两个刻蚀区执行第二刻蚀,其中,第二刻蚀被配置为能够刻蚀掉存储膜和填充层与第二刻蚀的刻蚀材料接触到的部分;以及比较执行第二刻蚀后的多个刻蚀区的形貌差异获得检测结果。该方法以较为简单的方式实现了微小缺陷的检出,具有大批量操作的可能性,避免因忽略了此类缺陷
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113421834 B
(45)授权公告日 2022.06.14
(21)申请号 202110689315.1 H01L 27/11582 (2017.01)
(22)申请日 2021
文档评论(0)