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一种量子计算系统性能监测方法及装置.pdfVIP

一种量子计算系统性能监测方法及装置.pdf

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    本发明涉及一种量子计算系统性能监测方法及装置，在根据选定的量子编译器确定编译后的量子电路，得到编译量子电路后，基于编译量子电路，将选定的量子问题求解算法的逻辑量子位映射到物理量子位，获得映射后的编译量子电路。进一步地，获取映射后的编译量子电路的运行结果，根据运行结果确定用于监测映射后的编译量子电路对应的量子计算系统性能的运行指标。基于此，根据选定的量子编译器和量子问题求解算法，进行编译量子电路的映射，将量子问题求解算法分解为可在量子计算系统具体执行的量子门回路，并根据运行结果获得监测量子计算系统

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113392976 A (43)申请公布日 2021.09.14 (21)申请号 202110629440.3 (22)申请日 2021.06.05 (71)申请人 清远市天之衡传感科技有限公司

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