一种集成电路输入端测试装置.pdfVIP

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本发明公开了一种集成电路输入端测试装置,其结构包括基座、固位把、探针、承载台、对扣、弹簧,基座上连接有探针和弹簧,弹簧一端连接有对扣,对扣连接有固位把,固位把上设置有承载台,承载台包括助力组件、垫片、囊括节、护板,助力组件通过垫片与囊括节间接配合,垫片连接在固位把上,且两侧连接有护板,在助力组件上设置有挡把和复位结构,利用挡把和复位结构与抓手相配合,当探针末端被输入端卡紧锁压住时,将会与挡把相互牵扯,使之绷紧,抽动其底部的复位结构,为之提供循环复位的动能,保证探针能更好搭接进下一个输入端。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113406481 A (43)申请公布日 2021.09.17 (21)申请号 202110771507.7 (22)申请日 2021.07.08 (71)申请人 陈清梅 地址 518

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