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用于带电粒子检测的装置(1400)和方法可以包括:偏转器系统(1408、1410、1412),该偏转器系统被配置为引导带电粒子脉冲(1414、1416、1418);检测器,该检测器具有检测元件,该检测元件被配置为检测带电粒子脉冲;以及控制器,该控制器具有电路系统,该电路系统被配置为:控制偏转器系统以将第一带电粒子脉冲和第二带电粒子脉冲引导到检测元件;分别获得与第一带电粒子脉冲何时被偏转器系统引导相关联的第一时间戳和与第一带电粒子脉冲何时被检测元件检测到相关联的第二时间戳、以及与第二带电粒子脉冲何
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113412529 A
(43)申请公布日 2021.09.17
(21)申请号 201980091751.X A ·V ·G ·曼格努斯 任岩
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