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本申请提供一种显示芯片检测装置及方法,涉及显示芯片检测技术领域,包括:基座,设置于基座的光源、光学组件、测试装置和用于容置待测显示芯片的测试工位;光源出射的光束经光学组件入射待测显示芯片,在待测显示芯片调制后的光束经光学组件入射测试装置,如此,测试装置便可以确定待测显示芯片的检测信息,根据检测信息确定当前测试的待测显示芯片是否合格,从而不仅能够以自动化的形式对待测显示芯片进行测试,提高检测效率,同时,将光源、测试装置、测试工位设置于光学组件的三侧,借助光学组件的特性,能够便于光源、测试装置和测试
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113376162 B
(45)授权公告日 2022.03.08
(21)申请号 202110921795.X 审查员 任华
(22)申请日 2021.08.12
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