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本发明公开了一种通过优选与构造测量点提高零组件整体位姿精度的方法,依据零组件上测量点在调姿定位前的坐标和调姿定位后的坐标,首先通过构建有效判据,剔除不符合判据的点,组成有效测量点,然后通过构建变换矩阵,将初始位置处零组件及其有效测量点匹配到目标位置处,并获得目标位置处零组件上有效测量点的构造点及其坐标。通过构建优选判据,从构造点中获取优选有效测量点,针对优选有效测量点再次构建修正变换矩阵,通过修正变换矩阵将初始位置处零组件及其优选有效测量点修正匹配到目标位置处,获得目标位置处零组件上优选有效测量
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113405496 B
(45)授权公告日 2022.07.12
(21)申请号 202110507047.7 CN 110174082 A,2019.08.27
(22)申请日 20
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