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    本公开实施例提供一种控制芯片的测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质，涉及半导体器件测试技术领域。该控制芯片中包括内建自测电路，该方法由该内建自测电路执行。该方法包括：读取存储于第一目标存储器芯片中的第一测试向量；将该第一测试向量发送至该控制芯片；接收该控制芯片响应于该第一测试向量返回的第一输出信息；根据该第一输出信息及其对应的第一测试向量，获得该控制芯片的第一测试结果。本公开实施例提供的技术方案，可以利用存储器芯片存储控制芯片的测试向量，从而可以扩大测试向量的存储空间，提高测试效率。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113393892 A (43)申请公布日 2021.09.14 (21)申请号 20201

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