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本发明涉及ATE芯片测试技术,公开了一种基于ATE芯片测试的同步方法和系统,其包括主控CPU下发芯片测试程序至主控FPGA,主控FPGA发送芯片测试程序至业务板,业务板上的FPGA芯片测试执行模块同步启动测试;业务板FPGA芯片测试执行模块进行测试程序的运行;业务板FPGA芯片测试执行模块对芯片测试结果进行判断,成功则测试结果信号置高,否则测试结果信号置低;FPGA芯片测试执行模块将测试结果通过背板同步至主控板FPGA的同步控制模块;本发明通过减少ATE设备在芯片过程中数据采集与数据分析的时间,
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113407396 B
(45)授权公告日 2022.07.29
(21)申请号 202110648250.6 审查员 卢萌
(22)申请日 2021.06.10
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